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高低溫試驗(yàn)箱就是在溫度的基礎(chǔ)上加濕熱系統(tǒng)，使做溫度的同時(shí)也可以做濕度測(cè)試，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。而且高低溫試驗(yàn)箱在使用時(shí)要注意一些問(wèn)題，遵守一定的操作規(guī)范。那么高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試步驟是怎樣的呢？下面是高天試驗(yàn)設(shè)備的分享：

　　高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試步驟：

　　1.預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　2.初始檢測(cè)：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入高低溫沖試驗(yàn)箱內(nèi)即可。

　　3.開(kāi)始試驗(yàn)：

　　A、在樣品斷電的狀態(tài)下，試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，先將試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，這一步非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生 20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。

　　B、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到90℃的高溫試驗(yàn)箱（室）內(nèi)，保持4h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行A、B測(cè)試步驟。

　　C、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

　　E、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

　　F、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

　　G、恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　H、后檢測(cè)：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。

　　如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。

　　以上關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試步驟就為大家分享到這里，高低溫試驗(yàn)箱是用于電工、bai電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn)，檢測(cè)其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性;其測(cè)試方式主要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。